W系列白光干涉仪由照明光源系统，光学成像系统，垂直扫描系统以及数据处理系统构成。是目前三维形貌测量领域高精度的检测仪器之一。在微电子、微机械、微光学等领域，白光干涉测量仪器可以提供更高精度的检测需求。

白光干涉显微测量仪，非接触、三维白光扫描干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。

一键批量分析白光干涉测头,是一款非接触式精密光学测头，其基于白光干涉和精密扫描研制而成，主要由光学干涉系统和Z向扫描系统组成，具有体积小、重量轻、便携的特点

微小尺寸测量仪，可用于精密机械、光通讯器件、精密模具、磁性材料、精密冲压、手机精密配件、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。

白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。原理：非接触、三维白光扫描干涉仪

白光干涉测头 主要特点：便携可搭载 一键批量分析 生产企业：深圳市中图仪器股份有限公司