SuperViewW1光学3d表面轮廓仪器主要用于对样品表面的2D、3D形貌进行测量，主要测量参数为粗糙度、台阶高、几何轮廓，主要用于超精密加工行业。

SuperView W1三维光学成像轮廓仪测粗糙度对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面粗糙度形貌的3D测量。

SuperViewW1非接触式三维光学轮廓仪器可以测到12mm，也可以测到更小的尺寸，XY载物台标准行程为140*110mm，局部位移精度可达亚微米级别，镜头的横向分辨率数值可达0.4um，Z向扫描电机可扫描10mm范围，纵向分辨率可达0.1nm级别，因此可测非常微小尺寸的器件。

SJ5780一键粗糙度轮廓度测量仪是大量程、高精度的主动扫描式综合轮廓测量仪器，可以全量程大范围连续扫描，拥有长达数百毫米的持续爬坡能力。

​中图仪器W系列3d表面轮廓测量仪可以对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

中图仪器SuperViewW1三维轮廓测量仪可测2D/3D轮廓、粗糙度，300余种特征参数，在半导体、精密加工及微纳材料等领域可得到广泛应用，如光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面线粗糙度、金字塔型磁头夹角、微透镜阵列曲率半径等。