中图SJ5800表面粗糙度轮廓测量仪原理为直角坐标测量法，即通过X轴、Z轴传感器，测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点，通过电器组件，将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机，软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理，标注所需的工程测量项目。集成表面粗糙度和轮廓测量，具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围，分辨率达到0.1nm。

中图仪器SJ5800系列高精度轮廓测量仪是测量各种机械零件素线形状和截面轮廓形状的精密设备，超高精度衍射光学测量系统，具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，分辨率高达0.1nm，系统残差小于2nm。

SuperViewW1光学表面3D轮廓仪采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和优异的3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SJ5800接触式轮廓测量仪具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围，分辨率达到0.1nm，是大曲面测量（轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、光学镜片）领域精细粗糙度测量的利器。适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量，同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能，能够满足各种高精密轮廓粗糙度加工行业的测量需求。

中图仪器SJ5800系列粗糙度轮廓一体式测量仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度测量仪器；采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高稳定性气浮隔振系统、高性能计算机控制系统技术，实现对球面及非球面光学元器件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。

SuperViewW1三维光学表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。