SJ5800粗糙度表面轮廓仪集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度测量，采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高稳定性气浮隔振系统、高性能计算机控制系统技术，能实现对球面及非球面光学元器件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。

SuperView W1系列光学轮廓粗糙度测量仪可对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

光学轮廓仪SuperViewW1集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成Z向聚焦、载物台平移、找条纹等测量前工作。3D重建算法、精密Z向扫描模块和光学干涉技术组成的测量系统，以及能有效隔离2Hz以上频率的隔振系统，保证了测量精度和测量重复性。

CHOTEST中图仪器SJ5800粗糙度轮廓度仪一体机具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围，分辨率达到0.1nm，是大曲面测量（轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、光学镜片）领域精细粗糙度测量的利器。

SJ5800粗糙度仪轮廓仪能一次测量同时评定轮廓和粗糙度参数，超高精度衍射光学测量系统，具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，分辨率高达0.1nm，系统残差小于2nm。高精度、高稳定性、高重复性满足被测件测量精度要求。

SuperViewW1白光干涉全自动光学轮廓仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。